品管技術Q & A meguro 網友
您的問題本人簡答如下：
「樣本試作的人員、機器、工具、材料、方法等因素，是否已經標準化？製程是否呈穩定狀態？得先弄清楚。
品質學會高雄分會理事長陳文魁 教授在這方面經驗豐富，你可直接請教他。」 rexchen@isu.edu.tw
林公孚
PS 劉漢容/陳文魁，《品質管理丶六標準差模式》，滄海書局，p152.對製程能力的誤用 ，有精闢的見解。
Dear Friend,
Questions you raised are quite similar to the mails I just replied.
Please see corresponding mails below.And I suppose you’ll comprehend what situation you’re facing.
Basically, LCL & UCL are calculated as μ ± 3σ/√n, it has nothing to do with CPK.
As you’re better off with high CPK, the smart way is to use “Run Chart” instead of “Control charts”.
And my textbook would be helpful, see below.
Best regards
Rex Chen
Subject: RE: 請教陳教授：品質管制圖上下限問題
Chart of time series, without control limits, is a “Run Chart”.
For high capable process, all you need is to monitor instead of control.
Subject: RE: 請教陳教授：品質管制圖上下限問題
陳教授
請問，在哪裡、或是老師哪一本的大作中我可以找到Run-chart 的用法？
(或許是英文名稱關係，我一時之間不曉得何謂Run-chart) 。
假如Run-chart 沒有任何管制界線，那麼我們該從哪些資訊，即時知道
產品變異，進而控制 (或是調整) 製程呢？
以上 李xx
Subject: RE: 請教陳教授：品質管制圖上下限問題
Dear Mr. Lee,
The control chart has nothing to do with CPK.
Even though process has high capability, say 8.3, upper outlier still own probability 1.35 0/00.
The best strategy is to use Run-chart instead of control charts for such excellent processes.
Or just take out control charts away from process then.
Best regards
Rex Chen
Ps: Run chart is just a pure trend chart without control limits.
Subject: 請教陳教授：品質管制圖上下限問題
陳教授
我是高雄xx電子公司李哲丞，負責ISO9001/TS16949認證・推進方面的業務。
曾經在今年八月份間向您請教過MSA計算上的問題。
請問，在品質管制圖（Xbar-R圖）中的UCL與LCL，假如遇到
1.）每次的分布，不管其平均值位置左右有變動，但是其結果都不會超出
規格上下限，而且距離蠻遠的。所以，對我來說這個些微變動都還在滿意狀態。
2.）＂規格公差遠大於6sXbar＂；換句話講，樣本的Cpk遠大於1.67。
3.）但是，UCL與LCL非常狹窄，所以雖然平均值位置、Cpk大於1.67，
可是還是會超出。
請問UCL與LCL可以適當地調整嗎？因為過度嚴苛的管制不符合經濟效益。
要怎麼做呢？
以上 李xx
